Новости 10 ноября 2015

Изобретен способ моделирования трехмерных наночастиц

Далее

Специалисты ORNL научились контролировать поведение материи размером 0,0000002 метра.  

Согласно исследованию, опубликованному в журнале Small, с помощью просвечивающего растрового электронного микроскопа возможно придавать точную трехмерную форму наночастицам в сложных окисях.

Эта технология, изобретенная учеными Национальной лаборатории Оак Ридж (ORNL) может найти применение в создании таких наноустройств, как микрочип. При этом весь полученный материал сохраняет одинаковые электрические и механические свойства.

«Мы управляем лучом микроскопа, чтобы строить внутри прочной материи, — рассказывает представитель ORNL Стивен Джесс. — Это похоже на бурение туннеля в недрах горы, чтобы построить там дом».

Для исследователей это изобретение предоставляет возможность сократить время экспериментов в области изучения свойств материи при разной ее толщине. Вместо того, чтобы подбирать образцы разных размеров, ученые могут теперь наращивать слой за слоем и непосредственно наблюдать отличия.

«Основная предпосылка нанонауки состоит в том, что когда материал уменьшается, он проявляет совсем иные свойства, чем были ему присущи, — рассказала Альбина Борисевич из ORNL. — Теперь мы научились это контролировать».