Группа исследователей из Юлихского центра в сотрудничестве с Магдебургским университетом разработала новый метод измерения электрических потенциалов образца с точностью до атомного уровня. Используя традиционные методы, было невозможно количественно регистрировать электрические потенциалы, которые возникают в непосредственной близости от отдельных молекул или атомов.
Новый метод квантовой точечной микроскопии может открыть новые возможности для производства чипов или определения характеристик биомолекул, отмечают исследователи.
Положительные атомные ядра и отрицательные электроны, из которых состоит материя, создают электрические поля потенциала, которые накладываются и компенсируют друг друга даже на очень коротких расстояниях. Традиционные методы не позволяют проводить количественные измерения этих полей, которые отвечают за многие свойства и функции материалов.
Однако ученые открыли для себя совершенно другой метод: точечная микроскопия включает в себя еще одну органическую материю — «квантовую точку», которая крепится к кончику микроскопа.
«Молекула настолько мала, что мы можем подсоединить к ней отдельные электроны с вершины атомно-силового микроскопа контролируемым образом», — объясняет Кристиан Вагнер, руководитель группы управляемой механической манипуляции молекулами Института Петера Грюнберга.
Исследователи потратили годы на изучение этого метода и разработали последовательную теорию. Причиной очень точных изображений является эффект, позволяющий наконечнику микроскопа оставаться на относительно большом расстоянии от образца.