Исследователи представили новый метод в микроскопии, который позволяет изучать материалы в разрешении в несколько десятых нанометра за короткое время.
Исследователи из Билефельдского университета в Германии сделали процесс SR-SIM (микроскопия структурированного освещения сверхвысокого разрешения) более точным. Ученые показали, что SR-SIM в режиме реального времени может визуализировать в разрешении в несколько десятых нанометра и подходит для наблюдения очень маленьких частиц.
«Именно это делает новый тип микроскопии действительно полезным для применения в биологии и медицине. Пока проблема заключается в том, что микроскопы, обеспечивающие достаточно высокое разрешение, не могут отображать информацию с соответствующей скоростью», — отмечает профессор Томас Хасер.
Во время процесса объекты облучаются лазерным светом. Этот свет возбуждает специальные флуоресцентные молекулы в образце таким образом, что они повторно излучают свет с другой длиной волны. Затем на микроскопическом изображении вновь появляется излучаемый свет. Эта технология позволяет получить более высокое разрешение.
Процедура состоит из двух этапов: свет, повторно испускаемый образцом, сначала записывается с помощью отдельных изображений. Полученное изображение затем восстанавливается на компьютере на основе этих необработанных данных. Поэтому реконструкция изображения занимает значительно меньше времени благодаря использованию параллельной компьютерной обработки на современных видеокартах.