В Венском техническом университете разработали линейный эллипсометр - прибор, который обеспечивает контроль качества при нанесении на электронику или фармакологические продукты тонкого слоя покрытия толщиной в микро- или нанометр. Аппарат был впервые представлен зрителям на выставке Hannover Messe, пишет Phys.org.
«В основе лежит простой принцип, — объясняет Фердинанд Баммер из Венского университета. — Поверхность освещается лазерными лучами. Мы проводим измерения, как свет лазера меняется под воздействием тонкого слоя». Значение имеет не только интенсивность лазерного луча, но и поляризация, то есть, направление колебаний световых волн.
Прибор испускает короткие лазерные пульсации в быстрой последовательности. Поляризация и интенсивность пульсации меняются в разной степени, в зависимости от толщины изучаемого слоя. Это позволяет анализировать даже крайне тонкие слои толщиной в микрометр или нанометр. Покрытие может состоять из любого материала, при условии, что он по крайней мере частично прозрачный. В случае с крайне тонкими слоями эту технологию можно применить и к металлам.
Sol Voltaics в 2 раза увеличит эффективность солнечных панелей
Кейсы
Прибор недорогой в производстве, без движущихся частей, надежный и прочный. Для измерений контакта с поверхностью не требуется, скорость — 100 измерений в секунду. Площадь примерно в 30 см длиной можно исследовать за одно измерение. Это значит, что технологию можно применять на скоростных сборочных линиях.
«Особой интерес прибор может представлять для фотовольтаики, например. Солнечные элементы часто делают из нескольких слоев, которые должны быть точно заданной толщины», — объясняет Баммер. Кроме того, можно применять при создании экранов, в медицине и фармакологии.